日本島津推出Nano Search顯微鏡SFT-4500

  構建微界面圖形與物性等的3Ｄ看·測定法

Nano Search體視顯微鏡　SFT-4500     日本的島津創作所于6月3日推新Nano Search體視光學光學顯微鏡「SFT-4500」，該軟件是島津創作所與奧林帕斯株式按份共有開發建設·營銷量業務的Nano Search ®體視光學光學顯微鏡的售后設備。本軟件由對方總部營銷量業務，奧林帕斯株式以Nano Search體視光學光學顯微鏡「LEXT OLS4500」的軟件名一并起營銷量業務。     Nano Search高倍電子光學材料高倍電子顯微鏡考察動物是集光電高倍電子光學材料高倍電子顯微鏡考察動物、脈沖光束高倍電子光學材料高倍電子顯微鏡考察動物、測試探針高倍電子光學材料高倍電子顯微鏡考察動物（SPM: Scanning Probe Microscope）*1于周身的分手后復合性設施，也不錯食用光電高倍電子光學材料高倍電子顯微鏡考察動物·脈沖光束高倍電子光學材料高倍電子顯微鏡考察動物落實從mm領域性到廊坊可耐電器有限公司領域性的考察動物，當前制定目標局部后，不錯信賴地做好SPM考察動物。SPM不止也不錯做好從廊坊可耐電器有限公司到奈米*2領域性的二維（3D）考察動物，還也不錯的同時擁有電位差、工作電流、粘應力松弛等外面物性。     打比方，做出建筑的原材料界面的的形狀判斷時，不要已經上樣就就能夠運行1臺保護裝置無接縫試行許多種仔細觀察動物與既定倍數下的判斷。推動了金屬、半導體行業、低碳原子、微米粉體、生物制品建筑的原材料等各個供試品從厘米方到微米技術水平的3D仔細觀察動物·判斷。

*1 將微探針靠近目標樣品表面，可以進行超微納米區域的觀察與測定。
*2 納米(mi)：1x10 -9米(mi)=10億分之1米(mi)。

【開發背景】

    近兩載以來來，伴隨著時間推移攜便的信息銷售終端、領域機械制造、特點性相關材料的小形化·高功能化，嚴謹的安全性能維護、機械故障詳細分析的主要性越多越高，這就具體需求也可以高可信性地測量面圖行、高差、面精致度的立體圖行測量設施。    一定采取微從表面圖型洞察分析·核查的的方面變得多，具有小車、高職能涂料等各種各樣的的方面。即是在學習開發的方面，這不僅在金屬材質、半導體設備等硬檢樣，而在聚酯樹脂、觸媒、保護膜、生物工程體等軟檢樣都亟待解決需要量進行納米技術質量的洞察分析。洞察分析檢樣也漸趨各異化，放上圖型的檢樣，有黏著性的檢樣等。國人極度希望能夠在從開發到臨近產品設備生孩子時段的所有機構都能使用的的電子顯微鏡。     Nano Search光學高倍顯微鏡觀察是還可以以低倍～超標系數考察·檢測法3維表面上樣子與物性的光學高倍顯微鏡觀察，越發越大量地應用于產業鏈同時學術討論實驗研究方向。為達到消費者夢想改變更多可靠性強，精密度、更寬標準檢測法·考察的規范要求，開發管理了Nano Search光學高倍顯微鏡觀察的后期的設備。

【本產品的重要特長】

1. 采用新開發的小型SPM頭降低噪聲
本產品(pin)采用安(an)裝(zhuang)于電動(dong)物鏡轉(zhuan)換(huan)器上(shang)的物鏡型SPM頭，可以同軸、同位置(zhi)地切換(huan)物鏡與懸臂前端。因此，轉(zhuan)移到(dao)SPM觀察之時(shi)，不(bu)會丟失觀察點。新開(kai)發的小型SPM頭提高(gao)(gao)了剛性，較(jiao)以往產品(pin)，圖像(xiang)噪聲降(jiang)低，跟蹤性能(neng)提高(gao)(gao)。

2. 在更寬的區域實現高分辨高精度的測定
 為了觀(guan)察較大的區域，通常采(cai)用低倍(bei)率(lv)(lv)觀(guan)察。但低倍(bei)率(lv)(lv)下，圖像(xiang)分辨率(lv)(lv)有限。為進行微區高(gao)分辨率(lv)(lv)觀(guan)察，SFT-4500采(cai)用最多可粘接625枚(mei)高(gao)倍(bei)率(lv)(lv)觀(guan)察圖像(xiang)的拼接功(gong)能，實(shi)現(xian)寬區域的高(gao)分辨觀(guan)察·高(gao)精度測(ce)定(ding)。

3. 配備自動采集3D圖像等功能，追求簡便性，即使初學者也輕松掌握操作
過去采集(ji)激光顯微鏡3D圖像時，必須進行復雜的(de)設(she)定（亮(liang)度、上限·下限位置），利用(yong)此次(ci)新配備的(de)智能掃描功能，只需單擊便(bian)(bian)(bian)可(ke)輕松采集(ji)3D圖像。并且，追求(qiu)操作簡便(bian)(bian)(bian)性，配備導航等功能，可(ke)以從更(geng)寬的(de)視野圖像自(zi)由自(zi)在(zai)地設(she)置SPM觀察視野，即便(bian)(bian)(bian)是初學(xue)者也可(ke)以獲得與熟練者一樣的(de)測(ce)定結果。

4. 能夠以約2倍于以往機型的速度獲得3D圖像
利用新(xin)配備的超(chao)高速模式，可(ke)以(yi)高速獲(huo)得3D圖(tu)像，采集速度是過去高速模式下(xia)的約2倍(bei)、高精細模式下(xia)的約9倍(bei)。可(ke)望實現快速的形狀觀察·測定，提高檢測效率(lv)。